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半扫描位置的确定方法
价 格
¥面议
专利号
CN201210008643.1
专利类型
发明专利
所属行业
中科院医学成像技术项目
有效日期
11
专利详情
过户资料
安全保障
专 利 号 :CN201210008643.1
专利类型:发明专利
所属行业:中科院医学成像技术项目
有效日期:11


一种半扫描位置的确定方法,通过统计IAng在每一个取值下的连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息总和记为F(IAng),其中,IAng为投影起始角度,及统计IAng在每一个取值下待扫描组织的辐射吸收剂量,并统计所有所述辐射吸收剂量的总和,记为D(IAng);然后将公式Max(c<sub>1</sub>F(IAng)-c<sub>2</sub>D(IAng))的值所对应的IAng确定为起始半扫描位置;式中,IAng=1,2,3...,N,c<sub>1</sub>、c<sub>2</sub>分别为边界信息和辐射剂量的加权因子。上述半扫描位置的确定方法,通过在不同起始角度下对连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息统计和辐射剂量的统计,进而根据图像质量和辐射剂量的要求确定最优半扫描位置。    


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